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紧凑型测试仪

紧凑型测试仪

  • 产品型号:CT440
  • 更新时间:2021-04-10
  • 产品介绍:紧凑型测试仪将高速电子设备和光干涉测量技术结合起来。四个集成的检测器使您能够同时测量四个通道,单次激光器扫描的动态范围为65 dB。此外,可在任何扫描速度实现±5 pm的波长精度,因此不需要在测量速度和精度间进行取舍。
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紧凑的测试仪,用于快速、准确地鉴定无源光元器件(复用器/解复用器、滤波器、分光器等)和模块(ROADM、WSS)。覆盖从1240到1680 nm的频谱范围,因此可在整个电信频段上进行测量。借助PDL选件,可同时测量插损和偏振相关损耗。

主要功能

  • 快速测量变换函数(插损)

  • 波长范围:1240-1680 nm(SMF型号)

  • PM和PDL选件

  • 波长分辨率:1至250 pm

  • 波长精度:±5 pm

  • 动态范围:单次扫描时65 dB

  • 最多可结合4个可调谐激光器(SMF型号)

  • 配备四个内部检测器,可通过同步进行扩展

  • 19英寸机架支持1U版本

快速测量插损

CT400地将高速电子设备和光干涉测量技术结合起来。四个集成的检测器使您能够同时测量四个通道,单次激光器扫描的动态范围为65 dB。此外,可在任何扫描速度实现±5 pm的波长精度,因此不需要在测量速度和精度间进行取舍。

准确测量插损

CT440紧凑型测试仪集成了一个监测光电探测器,在扫描期间补偿来自激光光源的任何功率波动。可以不考虑激光器扫描速度,在1和250pm之间选择采样分辨率。除了±5 pm的波长精度外,内置的波长计可减轻对可调谐激光光源(TLS)的要求,从而在不影响测量性能的情况下降低系统成本。CT440在与TLS和PC连接时,可提供执行测量所需的各种功能。

紧凑型测试仪支持全频段

CT440(SMF型号)覆盖从1240到1680 nm频谱范围,且完全兼容EXFO的T100S-HP系列可调谐激光器。例如,将T100S-HP-O+、T100S-HP-ES、T100S-HP-CLU和CT440 SMF型号结合起来,实现全频段测试。在使用多台TLS时,CT440可自动在激光器间切换,实现无缝的全频段测量。它与DUT间只需进行一次连接,这意味着不需要外部开关。

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                                用于全频段鉴定的典型配置

PM选件

CT440-PM可测量对偏振很敏感的元器件(如MZ调制器)的插损,此时在TLS输入和输出端口间需要一条偏振保持光纤。有两个型号,使用PM13型光纤覆盖O频段(1260 nm至1360 nm),或使用PM15型光纤覆盖SCL频段(1440 nm至1640 nm)。因此,这些型号要求偏振保持的可调谐激光器,例如分别要求T100S-HP-O-M和100S-HP-SCL-M。

PDL选件

CT440-PDL集成了一个偏振态发生器,从而能够通过连续的偏振控制扫描,鉴定插损和偏振相关损耗的频谱(基于穆勒矩阵法)。有两个型号,使用PM13型光纤覆盖O频段(1260 nm至1360 nm),或使用PM15型光纤覆盖SCL频段(1440 nm至1640 nm)。因此,这些型号要求偏振保持的可调谐激光器,例如分别要求T100S-HP-O-M和T100S-HP-SCL-M。

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                              使用CT440-PDL测量PDL

其它功能

激光线外差检测(SMF型号,TLS输入端口数≥2)

可将被测信号(SUT)连接到TLS第二个输入端口上。在激光器扫描整个波长范围的过程中,CT440会在穿过SUT波长时生成并检测干涉图样。因此,CT440可用作多波长计。

使用*的基准激光器或光纤耦合的气体腔重新校准系统

可使用支持外差检测功能的基准激光器,或支持波长基准测试功能的气体腔,进一步提高精度。

带内置分析功能的控制软件

提供直观全面的GUI,便于激光器管理、基准测试、扫描配置和滤波器分析。

完全的远程控制

借助DLL和CT440随带的示例软件代码,可随时将元器件测试整合到复杂的远程控制程序中。

外形小巧

CT440有全新的机架式版本(高度为1U),是空间有限的实验室的理想之选。

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备注

a. 用于采样分辨率为5 pm,> 5 nm进行的TLS扫描,对于PDL-O和PDL-SCL,采样分辨率为1 pm,不包括TLS扫描的加速和减速部分。
b. 在波长基准测试后。
c. 对于检测器上的入射功率> -30 dBm。精度:±0.5 dB,用于-30 dBm和-60 dBm之间的功率。
d. 1260 nm至1640 nm。
e. 如果激光器输入功率 = 10 mW(动态范围与激光器输出功率成比例)。
f. 对于检测器上的入射功率 > -30 dBm,根据分辨率为5 pm时6个状态测量结果确定。
g. 稳定的测试条件,建议用于较高PDL的6个状态。
h. 选择的激光器频率范围除以本地采样分辨率。

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