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应用分享|对光学膜层进行表征的前沿研究案例

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如果您的工作是和高反膜或抗反射膜的性能表征相关,那您一定知道它有多麻烦!但如果告诉您,有一键解决膜层表征的办法,仅仅是轻击鼠标就能得到膜层任意波长的特性,并且精度还很高,您是否想尝试一下?

新一代的Glacier-C超连续光腔衰荡反射仪正是为此而生。

 

//可测量到的镜面反射率数值高达99.9995%

常规的基于吸收和反射的测量方法灵敏度有限,难以准确表征如今的超反射涂层性能。这两种方法测量的反射率极限的典型值<99.9%,对应着光损耗>1000ppm。

而腔衰荡反射仪,例如超快创新公司(Ultrafast Innovations GmbH)新的Glacier-C产品,是通过探测光腔内的能量衰减来测量光损耗。由于光在腔内经历了多次的往返损耗,每次的损耗越小,光在腔内驻留的时间就越长,最终能获得足够高的灵敏度。Glacier-C系统能测量到的样品的光损耗在1000ppm到5ppm之间,对应的反射率为99.9%到99.9995%。

 

//测量450nm到2000nm范围内任意波长的膜层特性

当前的反射仪大都是基于激光二极管的方式,其能提供的测试波长受限于激光的输出波长,通常只能提供单波长,双波长,或最多三波长的测试。

而Glacier-C产品能为您提供不受限制且特别灵活的波长选择,轻击鼠标就可以在450nm到2000nm范围内选择任意波长进行测试,简单又高效。

您肯定要问了,这是如何实现的呢?其实,除了采用腔衰荡技术,Glacier-C系统还使用了超连续谱白光光源和可调单色滤波器。超连续谱白光选择的是NKT Photonics公司的SuperK Compact光源,可提供超宽的波长范围,同时搭配了Superk Select可调滤波器,对输出光谱范围内的任意波长进行选择。

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这就为用户提供了特别灵活的膜层表征能力。只需要一台设备,就可以完成反射镜和膜层在任意波长上的特性表征。

超快创新公司使用Glacier-C在940nm波长测量到的某片镀膜后的晶圆的反射率损耗曲线。该曲线数据是通过衰荡腔加入样品前后的损耗值做差得到的。这也证明了Glacier-C系统的强大,不仅能测量反射镜的反射率,也能对其他表面,如晶圆或镀有抗反射膜的光学器件进行宽波段的表征。

Glacier-C能辅助科研人员利用镀膜设施简单高效的开发并表征膜层质量,监控镀膜过程,设计反射镜以及研究高反膜和低损耗抗反射膜的特性。

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//助力公司生产和科学研发

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NKT超连续谱光纤激光器,该系列面向行业近二十年。产品性能稳定可靠,可替代多波长激光器、低功率宽带光源(比如ASE、SLED),广泛应用于显微成像、荧光寿命分析、光学相干断层成像、白光干涉、光谱分析等领域。

技术参数

重复频率:78 – 2MHz(150 kHz或320MHz可选)

光谱范围:390-2400nm(UV拓展波段可选)    

总功率:6.5W(110mw等不同功率型号可选)    

触发输出抖动:<20ps    

光束质量M²:<1.1    

输出光束:高斯,单模    

输出选项:准直输出     

 

该产品操作简单,免维护。丰富的滤波配件设计,可满足单波长输出、多波长同时输出、宽带输出等不同应用需要!

 
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